Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试，且支持1/2/4 sites的测试需求。另外，由于可靠的机构及功能设计，也让该设备能提供更高的产出及降低设备当机率，3160-C能更有效提升生产力并缩短更换kit部件的时间，且主动式温控系统 （ATC）更可提供待测物-55°C to 150°C的测试环境。

Chroma 3160 终端测试分类机是一系列适合量产、高产出、多平行测试站点的高速IC测试分类机。此系列分类机运用Pick & Place技术，能够配合多种封装类型并按照测试结果将它们排序分类予分料盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下，机台量测之重复性，并有助于增加机台使用之稳定性与维护之便利性。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低

Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要 求，多重检查功能装置可降低待测物发生异常的 损坏。

Chroma 3111 桌上型单站测试分类机具备远端功能可于任何地点 透过网路连接方式进行控制，3111可用软体设 定JEDEC料盘的分配以及进行工程测试，在60公 分平方的空间里发挥大的效用以节省时间和成 本，简易操作的系统介面（Windows™）提供一各 快速且容易的设定方式，可简化流程并提高效率。

Chroma 3110-FT 三温测试分类机 三温 测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出;配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4平方米的空间发挥的IC分料能力以节省成本与时间。

Chroma 3110 双用单站测试分类机 3110 不 但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试程式，旨在提供一个全能的解 决方案。