同惠TH511半导体功率器件动态参数C-V特性分析解决方案

同惠TH511半导体C-V特性分析仪是同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。

同惠TH511半导体C-V特性分析仪采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，同惠TH511半导体C-V特性分析仪适用于生产线快速测试、自动化集成。

同惠TH511半导体C-V特性分析仪的CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，同惠TH511半导体C-V特性分析仪满足大多数功率器件测试。